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使用YIELDMASTER PL – Wafer对硅片进行质量分类
概況

基于硅片等级对电池效率进行预测

要求和目标

硅片材料的高质量要求:

  • 基于高品质的硅片加工高效率的太阳能电池片
  • 电池生产商的成本压力– 避免昂贵的工艺原料和耗 材用于无效的投入

检测解决方案

SOLARSCAN-Yieldmaster PL – Wafer

  • ISRA GP YIELDMASTER检测技术:精巧的设计可实 现无可比拟的性能和快速的投资回报(ROI)
  • 基于硅片分析,精确预测电池效率
  • 鉴别严重和不严重缺陷以便更准确的预测效率
  • 经激光认证的外壳 - 便于在线集成,低于1 秒的作业 周期时间

系统应用

在线检测硅片材料

  • 效率潜力的预测
  • 根据晶体缺陷、杂质和效率潜力对硅片进行质量 分级
  • 识别和筛选出坏料

优势

立即投入,是您节省成本和提高质量的关键:

  • 识别劣质,优质和极优材料,优化总体的生产效能
  • 仅加工优质硅片 – 通过节省生产耗材降低生产成本
  • 加工优质材料,获得更高的产量和更佳的工艺性能
  • 回收劣质硅片,进而可获得供应商退款