In der Produktion von Solarzellen spielt die Qualität der Wafer eine entscheidende Rolle um höchst effiziente Solarzellen zu erhalten und konkurrenzfähig zu sein.
Oft ist es schwierig zusätzliche Messtechnik für die Optimierung von Wafern in eine bestehende Linie zu integrieren, da entweder nicht ausreichend Platz vorhanden oder die Automation beschränkt ist.

Die GP TEST-UNIT bietet eine automatisierte freistehende Plattform für die Integration von Messtechnik für die zuverlässige Waferinspektion.

• Abstapeln der Wafer mit Bernoulli Greifern
• Inspektion mit GP Solar Inspect Messsystemen für Waferinspektion
• Sortierung erfolgt entsprechend der Klassierungsergebnisse
• Optionales Carrier Modul für Be- und Entladung in Slot Carriers
• Freistehende Automatisierungseinheit

• Integration von GP NANO-D .Scan und GP TOPO-D .Scan
• Integration von GP WAF-Q .Cam, inkl. Konturinspektion
• Integration aller GP Sensor Systeme möglich
• Sortiereinheit mit Quertransport inkl. Hubbändern und 4 Lademagazinen
• Benötigt minimale Stellfläche
• Bis zu 3500 Wafern/ h (mit optionalem Carrier Module)

Hinweis: Alle technischen Details können sich ohne Vorankündigung ändern. Nur die technischen Spezifikationen im Angebot sind verbindlich.