Situation
Zum Funktionsprinzip einer Solarzelle gehört ihre Dotierung in eine positive und eine negative Schicht. Erzeugt wird dieser pn-Übergang meist durch Diffusion. Während des Prozesses entsteht auf der Zellrückseite ein störender Emitter. Falls dieser nicht von der Vorderseite getrennt wird, so drohen Kurzschlüsse innerhalb der Solarzelle. Durch Laser- oder durch Ätzprozesse werden daher die Wafer- bzw. Zellkanten isoliert. Die Labor-Tools GP ISO-TEST Waf und GP ISO-TEST Cell prüfen gewissenhaft den Isolationswiderstand und bieten damit eine verlässliche Prozesskontrolle.
Prinzip
- Zwei gefederte Kupferplatten (CELL) bzw. gefederte Plastikplatten mit
versenkten gefederten Kontaktstiften (WAF) zur Kontaktierung des
Wafers / der Zelle von oben und unten
Vorteil
- Möglich ist eine Messung der einzelnen Kanten nacheinander
wie auch gleichzeitig (nur WAF)
Technische Daten
Thema |
Beschreibung |
Messproben |
- Mono- und multikristalline Wafer - Square oder Pseudo Square - Texturiert oder nicht texturierte Oberfläche - Diffundierte Schicht (n+p or p+n) - Wafer ohne Kontakte, Zellen mit Kontakte - Kantenisoliert |
Wafergröße |
100 … 156 mm |
Messungen |
Kontrolle des Kantenisolationswiderstandes anhand einer 2-Punkt Probe |
Probenvorbereitung |
- Wafer nach der Diffusion und folgender Kantenisolierung - Zellen nach Laserkantentrennung |
Gemessener Bereich |
Gesamter Wafer / Zelle |
Messdauer |
ca. 5 sec. pro Wafer |
Hinweis: Alle technischen Details können sich ohne Vorankündigung ändern. Nur die technischen Spezifikationen im Angebot sind verbindlich.