GP SR-TEST
System zur Messung der spektralen Empfindlichkeit von Solarzellen und zur Bestimmung der Reflektion als Punktmessung oder Flächenscan
Übersicht

Situation

Die Leistung einer Solarzelle hängt grundlegend von ihren elektronischen Eigenschaften ab. Zur Klassifizierung der Zellen und auch zum Aufzeigen von Problemen in Prozessen werden diese Zelleigenschaften geprüft. Dazu zählt die Messung der Quanteneffizienz, durch die Rückschlüsse auf den kompletten Fertigungsprozess möglich sind. Der GP SR-TEST misst präzise und verlässlich die externe Quanteneffizienz (EQE) und die Oberflächenreflexion einer Solarzelle und berechnet daraus ihre interne Quanteneffizienz (IQE). So verhilft er zu einem genaueren Verständnis der Verlusteinflüsse, die die Leistungsfähigkeit der Zelle begrenzen.

Prinzip

  • EQE und IQE werden berechnet
  • 4-Punkt Schema mit einer Kontaktqualitätskontrolle

Vorteil

  • Messung der Reflektion und des Kurzschlussstroms abhängig von der Wellenlänge

Technische Daten

Thema

Beschreibung

Messungen

- Paralleles monochromatisches Licht trifft die Zellen durch
eine 2 x 2cm² Blende

- Weißes BIAS-Licht bis zu 0.3 Sonnen, ebenfalls beschränkt auf
die Fläche der Blende

- Scansystem: EQE/R/IQE gemessen als Durchschnitt der
ganzen Zellfläche

- Bewegung der Solarzelle in x-y Breite bis zu 200 mm/s

Systemfunktionen

- Hervorragende S/N ratio, mit und ohne BIAS-Licht

- Schnelle lokale Messungen auf großen Zellen

- Kompakter Aufbau

- Geringe Wärmebilanz

Messdauer

Für lokale EQE oder REF Messung mit 90 Waferlänge < 4 min

Pro Waferlänge Scan mit 100mm/s:
125 x 125 mm² < 9 s
256 x 156 mm² < 13 s
210 x 210 mm² < 24 s

Hinweis: Alle technischen Details können sich ohne Vorankündigung ändern. Nur die technischen Spezifikationen im Angebot sind verbindlich.