Situation
In der modernen Solarzellenproduktion liegt eine große Herausforderung in der Kombination von hohen Durchlaufzeiten mit niedrigen Bruchraten. Als Laborgerät prüft der GP STAB-TEST Pro gewissenhaft die mechanische Stabilität von Wafern und Zellen. Dadurch lässt sich insbesondere die Ursache für eine ansteigende Bruchrate in der Produktion zuverlässig eingrenzen. Ist der GP STAB-TEST Pro mit dem optionalen Zubehör ausgestattet, misst er außerdem die Adhäsionskraft des gelöteten Tabbings und den Bow der Zellen nach dem Feuerofen.
Prinzip
- Kalibrierter Kraftsensor und mit hochwertigem Keithley Mehrfachmessgerät kombiniert
- Twist-Testing um die Belastung eines Wafers während des Siebdruck- Prozesses zu simulieren
Vorteile
- Großer Messbereich für die Bruchkraftmessung
- Findet die Ursachen für erhöhte Bruchraten in der Produktion und reduziert
somit die Bruchrate
Technische Daten
Thema |
Beschreibung |
Messproben |
- Mono- und multikristalline Wafers/Zellen - Square oder Pseudo Square |
Wafergröße |
100 … 210 mm |
Messungen |
- Stabilitätsmessungen mit Bruchkrafttbestimmung - Adhäsionstest - Bow-Test |
Kraftauflösung |
+/- 10 mN |
Verschiebungsauflösung |
+/- 5 µm |
Hinweis: Alle technischen Details können sich ohne Vorankündigung ändern. Nur die technischen Spezifikationen im Angebot sind verbindlich.