Situation

Zum Funktionsprinzip einer Solarzelle gehört unweigerlich ihre Dotierung in eine positive und eine negative Schicht. Standardmäßig erzeugt man diesen pn-Übergang durch das Eindiffundieren eines Emitters auf Vorder- und Rückseite der Solarzelle. Anschließend werden die Kanten isoliert, um so einen Kurzschluss in der Zelle zu unterbinden. Man erreicht dies meist durch Lasern oder durch Ätzprozesse. Der ISO-TEST Inline prüft genau und zuverlässig die entstandene Kantenisolierung nach einer nasschemischen Ätzung oder einer Plasmaätzung.

Prinzip

  • Kontrolle des Vorderseitenemitters
  • Überprüfung des Widerstands und der Diodencharakteristik zwischen Vorderseite und Rückseite

Vorteile

  • Findet mögliche Fehler im Kantenisolierungsprozess
  • System zur Überprüfung der Ergebnisse der Plasmaätzung und nasschemischer Ätzungsprozesse

Technische Daten

Thema

Beschreibung

Messproben

- Mono- und multikristalline Wafer

- Square oder Pseudo Square

- Texturierte oder nicht-texturierte Oberfläche

- Diffundierte Schicht (n+p or p+n)

- Kantenisolierung (Plasma oder einseitige Nasschemie)

Wafergröße

125 … 210 mm

Gesamtzykluszeit

ca. 10 sec

Maschinenanschluss (zur Automatisierung)

- Parallel I/O

- Parallel I/O (kombiniert mit RS232 für WaferID Info)

- Profibus

Datenschnittstelle (zum Firmennetzwerk oder zur Automatisierung)

- OPC (Server)

- XML via TCP/IP

Hinweis: Alle technischen Details können sich ohne Vorankündigung ändern. Nur die technischen Spezifikationen im Angebot sind verbindlich.

Download

  1. Produktdatenblatt 203_GP-ISO-TEST-Inline-an… (310 KB)