Inline 3D-InspektionssystemEnergie & Technik 05/2011 Bei GP Solar zu sehen ist das neue Inline-Inspektionssystem GP TOPO-D .Scan für die vollflächige 3D-Messung der Topographie von Wafern und Zellen - on-the-fly und innerhalb von einer Sekunde. Die zum Patent angemeldete Technologie ermöglicht ein dreidimensionales Scannen von Wafern in z-Richtung mit höchster Genauigkeit mittels einfacher Bewegung der Wafer durch das System. Die Höhenauflösung beträgt 4 µm. |
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Messen wie im Flugphotovoltaik 06-2011 GP Solar zeigt auf der Intersolar das optische Inspektionssystem GP TEX-Q Scan, das die Textur von mono- und multikristallinen Wafern überprüft. Das Inspektionssystem erkennt Fehlerstellen auf der Waferoberfläche, die bei nasschemischen Prozessen entstehen können. Die sogenannte On-the-fly-Messung findet in der Bewegung statt und hat einen Durchsatz von einem Wafer pro Sekunde. Des Weiteren stellt das Unternehmen das Messgerät GP ISO-TEST Waf vor. Es überprüft den Isolationswiderstand zwischen Vorderseite und Rückseite von diffundierten Wafern nach einer chemischen Kantenisolierung. Ein Benutzerdisplay ist in das Gehäuse integriert. |
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Texturqualität multikristalliner Silizium-Wafer messenEnergie&Technik 3/2011 GP Solar stellt den GP TEX-Q.Scan vor - ein optisches Inspektionssystem zur Beurteilung der Texturqualität multikristalliner Silizium-Wafer. Es ermittelt die Texturqualität über einen komplexen Analysealgorithmus; die Ausgabe erfolgt direkt als Texturqualität auf einer Qualitätsskala von 1 bis 5. |
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SNEC Shanghai: Schneller, größer, professionellerphotovoltaik 02-2011 Doch nicht nur der Kapazitätsausbau war bei der SNEC in aller Munde, sondern auch das Thema Qualität. Viele von der photovoltaik befragte Aussteller berichteten, dass chinesische Kunden zunehmend auch auf Qualität achten. So setzte beispielsweise GP Solar im vergangenen Jahr vier bis fünfmal so viele Produkte aus dem Bereich der Messtechnik ab wie 2009 und rechnet für dieses Jahr laut Geschäftsführer Eric Rüland mit einem weiteren starken Wachstum im diesem Bereich. |
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Nachbericht Solarpeq DüsseldorfSONNE WIND & WÄRME Die GP Solar GmbH aus Konstanz, die zur Centrotherm Photovoltaics Group gehört, präsentierte auf der Messe in Düsseldorf ihr Inline - Inspektionssystem GP TF-EYE. Dieses dient der optischen Inspektion in der Fertigung von Dünnschichtmodulen. Das Unternehmen führt das TF-EYE derzeit ein und hat bereits 500 Systeme zur Zell- und Waferinspektion verkauft. Mit 12 Kameras à 4 Megapixel kann das TF-EYE ein Gesamtbild des Moduls darstellen. Da die Maschine die vollständigen Bilddaten über ein eigenes Bildformat verarbeitet, ist es den Modulherstellern möglich, die Fertigung im laufenden Prozess zu optimieren, erklärt Vertriebsleiter Harald Stenzel die Vorzüge des GP-Systems. Diese eignet sich für jedes Dünnschichtmodul und jede Dünnschichtfertigung. Die Genauigkeit beträgt bis zu 25 μm. Neben dem System zur optischen Inspektion bietet GP auch ein sensor-basiertes Inspektionssystem an. Zur website SONNE WIND & WÄRME
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On the fly - Berührungslose Mikroriss-Inspektionproductronic 10-2010 Das berührungslose Messsystem zur Mikroriss-Erkennung von GP Solar Micro-D .Cell untersucht die Zellen hinsichtlich feiner Risse - so genannte Mikrocracks - und anderer Defekte im Material und sortiert die betroffenen Zellen automatisch aus. Das patentierte Messprinzip basiert auf dem physikalischen Effekt der inhomogenen Reflketion innerhalb der Mikrorisse. Das Metallgitter der Leiterbahnen auf der Vorderseite wird von der zugehörigen Analyse-Software heraus gerechnet. Die aluminiumbeschichtete Rückseite hat keinen Einfluss auf die Messung, ebenso wenig die Korngrenzen der Kristallstruktur von multikristallinen Silizium-Zellen. Durch eine hohe Erfassungs- und Analysegeschwindigkeit sind Durchsätze von 1 Zelle / s und mehr möglich. |
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Linienübergreifend - Software-Lösungen für die PV-Fertigungproductronic 08/09-2010 GP Solar GmbH bietet zwei Softwarelösungen zur Verarbeitung von Messdaten in der Solarzellenproduktion an, die es den Zellherstellern ermöglichen, weltweit ein gleichbleibendes Qualitätsniveau an unterschiedlichen Produktionsstätten zu erreichen. Die Software ist auf die optischen Messsysteme aus der Produktreihe GP Solar Inspect abgestimmt und wird innerhalb der Inspektion sowie Klassierung von Solarwafern und -zellen zur automatisierten Produktionsüberwachung und -steuerung eingesetzt. Das GP Central Recipe Tool (CRT ) ist ein übergeordnetes Rezept-Verwaltungstool auf einem separaten Server-PC, mit Zugang zu allen installierten optischen Messsystemen eines Unternehmens. Das GP Soft View Tool zeigt laufend die aktuelle Qualität der Solarwafer/- zellen an mehreren Messpunkten einer Produktionslinie gesammelt auf dem Bildschirm einer Kontrollstation an. Das frei einstellbare und webbasierte Überwachungsprogramm ermöglicht gezielte Linienoptimierung. Durch die Vernetzung der einzelnen Systeme wird ein genauer Gesamtüberblick über die Prozessqualitätsverteilung aller Fertigungsstraßen vermittelt. |
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Mikrorisse reflektieren andersphotovoltaik 07-10 Das Unternehmen GP Solar bietet ein System mit dem Namen GP Micro-D.Cell an, mit dem Solarzellen berührungslos auf Mikrorisse getestet werden können. Es nutzt aus, dass sich durch Risse die Reflexionseigenschaften der Zelle ändern. Eine Software rechnet dabei die Störungen heraus, die die metallenen Kontaktfinger erzeugen. Die Korngrenzen bei polykristallinen Zellen und die Aluminiumbeschichtung der Rückseite stören nicht. Das System könne feine Risse und andere Defekte in den Zellen ausfindig machen und sortiere betroffene Zellen automatisch aus. Die Solarzellen würden bei diesem Prüfprozess nicht weiter belastet. Daher eigne sich das System zur Qualitätskontrolle in der Solarzellenproduktion ebenso wie in der Eingangskontrolle für Modulhersteller. Die hohe Erfassungs- und Analysegeschwindigkeit ermögliche Durchsätze von einer Zelle pro Sekunde und mehr. Die Lieferzeit für das Messsystem beträgt 16 Wochen. |
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Gleiche Qualität von Solarzellenenergiespektrum 05-2010 Zwei neue Softwarelösungen der GP Solar verarbeiten Messdaten in der Solarzellenproduktion. Sie ermöglichen es Zellherstellern, laut Unternehmen, ein gleichbleibendes Qualitätsniveau an unterschiedlichen Produktionsstätten zu erreichen - sogenannte "Global Quality Standards". Die Software ist auf die optischen Messsysteme aus der Produktreihe GP Solar Inspect abgestimmt. Sie wird innerhalb der Inspektion sowie Klassierung von Solarwafern und -zellen zur automatisierten Produktionsüberwachung und -steuerung eingesetzt. |
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Überwachung der gesamten Liniephotovoltaik 04-2010 GP Solar bietet ein sogenanntes Soft View Tool an, das die Qualität von Wafern oder Zellen an mehreren Messpunkten in der Produktionslinie überprüft. Damit können Produktionsleiter und Qualitätsingenieure die Linie gezielt verbessern, da sie schnell auf Fehler reagieren könnten. Das Soft View Tool besteht aus einem Server-System, das die Daten in Echtzeit erfasst und anschließend in Web-Ansichten umwandelt. Außerdem stellt GP Solar ein Central Recipe Tool vor. Mit Rezept werden die einzelnen Mess- und Sortieraufgaben in definierter Abfolge bezeichnet. Das Werkzeug dient der übergeordneten Rezept-Verwaltung auf einem separaten Server. So könnten in unterschiedlichen Produktionsstätten identische Mess- und Sortieraufgaben eingespielt und immer das gleiche Qualitätsniveau erreicht werden, meldet GP Solar. |
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Auf Gigakursphotovoltaik 02-2010 Zellfertigung: Die Produktionsstätten für Photovoltaikzellen werden immer größer, so dass die Herstellungskosten im Prinzip weiter sinken werden. Doch das Größenwachstum hat Grenzen, nicht nur wegen der hohen Investitionskosten. Der Markt vor Ort muss die riesigen Zellmengen auch abnehmen. |
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Messungen mit Röntgenblickphotovoltaik 09-2009 Um Risse, Einschlüsse oder andere Defekte in Wafern erkennbar zu machen, hat das Unternehmen GP Solar das optische Messsystem GP NANO-D entwickelt. Die Streuung von Licht verrät dabei die Fehler. Die Kristallstrukturen der Wafer, die häufig mit Brüchen verwechselt werden, kann das Gerät ausblenden. Die Fehlerrate ist nach Firmenangaben nahezu null, so dass eine Nachkontrolle der aussortierten Wafer nicht nötig sei. In einer Sekunde kontrolliert das Gerät einen Wafer von 100 bis 156 Millimetern Größe. Es ist zur Qualitätskontrolle bei der Waferherstellung oder der Eingangskontrolle bei der Solarzellenherstellung gedacht. |
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Vorschau zur 24. EU PVSECSONNE WIND & WÄRME 09-2009 Frei nach dem Motto: Vertrauen ist gut, Kontrolle ist besser, präsentiert die GP Solar in Hamburg ein neues Inline-System zur optischen Inspektion von Wafern. Der GP Nano-D prüft das Rohmaterial auf Mikrorisse, Einschlüsse und andere Defekte. Somit dient er zur Qualitätskontrolle in der Waferherstellung, zur Eingangskontrolle bei der Solarzellenherstellung und zur Prozesskontrolle vor der Kontaktierung des Wafers. Ziel: deutlich verringerte Bruchraten in den Produktionslinien. Der GP Nano-D ist für Mono- und multikristalline Wafer geeignet und hat einen Durchsatz von rund einem Wafer pro Sekunde. |
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