energiespektrum 05-2010
Rubrik: Serivce > Produkte & Medien

Zwei neue Softwarelösungen der GP Solar verarbeiten Messdaten in der Solarzellenproduktion. Sie ermöglichen es Zellherstellern, laut Unternehmen, ein gleichbleibendes Qualitätsniveau an unterschiedlichen Produktionsstätten zu erreichen - sogenannte "Global Quality Standards". Die Software ist auf die optischen Messsysteme aus der Produktreihe GP Solar Inspect abgestimmt. Sie wird innerhalb der Inspektion sowie Klassierung von Solarwafern und -zellen zur automatisierten Produktionsüberwachung und -steuerung eingesetzt.

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photovoltaik 04-2010
Rubrik: Produktionstechnologie/GP Solar

GP Solar bietet ein sogenanntes Soft View Tool an, das die Qualität von Wafern oder Zellen an mehreren Messpunkten in der Produktionslinie überprüft. Damit können Produktionsleiter und Qualitätsingenieure die Linie gezielt verbessern, da sie schnell auf Fehler reagieren könnten. Das Soft View Tool besteht aus einem Server-System, das die Daten in Echtzeit erfasst und anschließend in Web-Ansichten umwandelt. Außerdem stellt GP Solar ein Central Recipe Tool vor. Mit Rezept werden die einzelnen Mess- und Sortieraufgaben in definierter Abfolge bezeichnet. Das Werkzeug dient der übergeordneten Rezept-Verwaltung auf einem separaten Server. So könnten in unterschiedlichen Produktionsstätten identische Mess- und Sortieraufgaben eingespielt und immer das gleiche Qualitätsniveau erreicht werden, meldet GP Solar.

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photovoltaik 02-2010
Rubrik: Forschung & Entwicklung
Von: Andrea Hoferichter

Zellfertigung: Die Produktionsstätten für Photovoltaikzellen werden immer größer, so dass die Herstellungskosten im Prinzip weiter sinken werden. Doch das Größenwachstum hat Grenzen, nicht nur wegen der hohen Investitionskosten. Der Markt vor Ort muss die riesigen Zellmengen auch abnehmen.

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photovoltaik 09-2009
Produktionstechnologie / GP Solar

Um Risse, Einschlüsse oder andere Defekte in Wafern erkennbar zu machen, hat das Unternehmen GP Solar das optische Messsystem GP NANO-D entwickelt. Die Streuung von Licht verrät dabei die Fehler. Die Kristallstrukturen der Wafer, die häufig mit Brüchen verwechselt werden, kann das Gerät ausblenden. Die Fehlerrate ist nach Firmenangaben nahezu null, so dass eine Nachkontrolle der aussortierten Wafer nicht nötig sei. In einer Sekunde kontrolliert das Gerät einen Wafer von 100 bis 156 Millimetern Größe. Es ist zur Qualitätskontrolle bei der Waferherstellung oder der Eingangskontrolle bei der Solarzellenherstellung gedacht.

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SONNE WIND & WÄRME 09-2009

Frei nach dem Motto: Vertrauen ist gut, Kontrolle ist besser, präsentiert die GP Solar in Hamburg ein neues Inline-System zur optischen Inspektion von Wafern. Der GP Nano-D prüft das Rohmaterial auf Mikrorisse, Einschlüsse und andere Defekte. Somit dient er zur Qualitätskontrolle in der Waferherstellung, zur Eingangskontrolle bei der Solarzellenherstellung und zur Prozesskontrolle vor der Kontaktierung des Wafers. Ziel: deutlich verringerte Bruchraten in den Produktionslinien. Der GP Nano-D  ist für Mono- und multikristalline Wafer geeignet und hat einen Durchsatz von rund einem Wafer pro Sekunde.
Darüber hinaus präsentiert das zur Centrotherm-Gruppe gehörende Unternehmen erstmals seine Anschlussdose GP M-Connect. Bei dem 4-poligen System liegen die Anschlusskontakte in einem einlaminierten Flachbaustein und werden über eine Federklemmvorrichtung fixiert. Alle Dosenbauteile können sowohl automatisiert als auch manuell bestückt werden.
Der Vertrieb des Produktes erfolgt im Rahmen der GP-Solar-Turnkey-Projekte oder als Lizenzvereinbarung an Modulhersteller.