Die GP Solar GmbH stattet einen etablierten Hersteller multikristalliner Solarzellen mit insgesamt 82 optischen Messsystemen zur Prozess- und Qualitätskontrolle aus.

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Dr. Ihor Melnyk übernimmt neue Aufgaben bei der centrotherm photovoltaics AG

Zum 1. Juli 2010 übernimmt Dr. Ihor Melnyk mit der Leitung des Bereiches „Technologietransfer Solarzelle und -modul“ bei der centrotherm photovoltaics AG eine neue Verantwortung und gibt damit seine Funktion als einer von drei Geschäftsführern bei der centrotherm-Tochter GP Solar GmbH ab. Der promovierte Physiker hatte im Mai 2009 gemeinsam mit Dr. Eric Rüland die Geschäftsführung des Konstanzer Solarunternehmens angetreten, die mit Petra Hoffmann zum Februar 2010 ein Trio formte.

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Die GP Solar GmbH, Konstanz, präsentiert auf der Intersolar Europe in München, die vom 9. bis 11. Juni stattfindet, erstmals den Prototypen eines berührungslosen Messsystems zur Mikroriss-Erkennung. Damit ergänzt das Unternehmen seine Produktreihe für die Inspektion von Silizium-Solarzellen. Das Messsystem „GP MICRO-D .Cell“ untersucht die Zellen hinsichtlich feiner Risse – sogenannter Mikrocracks – und anderer Defekte im Material und sortiert die betroffenen Zellen vollautomatisch aus. Die Solarzellen werden bei diesem berührungslosen Prüfprozess mechanisch nicht belastet.

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Die GP Solar GmbH bringt zwei neue Softwarelösungen zur Verarbeitung von Messdaten in der Solarzellenproduktion auf den Markt. Diese Lösungen ermöglichen es Zellherstellern weltweit, ein gleichbleibendes Qualitätsniveau an unterschiedlichen Produktionsstätten zu erreichen – sogenannte „Global Quality Standards“. Die Software ist auf die optischen Messsysteme aus der Produktreihe GP Solar Inspect abgestimmt. Sie wird innerhalb der Inspektion sowie Klassierung von Solarwafern und -zellen zur automatisierten Produktionsüberwachung und -steuerung eingesetzt.

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Der GP NANO-D .Scan ist ein Inline-System zur optischen Inspektion von Wafern. Geprüft wird das Rohmaterial hinsichtlich Microcracks, Einschlüsse und andere Defekte. Somit dient das System als Qualitätskontrolle der Waferherstellung, als Eingangskontrolle bei der Solarzellenherstellung und als Prozesskontrolle.

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