Auf Gigakursphotovoltaik 02-2010 Zellfertigung: Die Produktionsstätten für Photovoltaikzellen werden immer größer, so dass die Herstellungskosten im Prinzip weiter sinken werden. Doch das Größenwachstum hat Grenzen, nicht nur wegen der hohen Investitionskosten. Der Markt vor Ort muss die riesigen Zellmengen auch abnehmen. |
|
Messungen mit Röntgenblickphotovoltaik 09-2009 Um Risse, Einschlüsse oder andere Defekte in Wafern erkennbar zu machen, hat das Unternehmen GP Solar das optische Messsystem GP NANO-D entwickelt. Die Streuung von Licht verrät dabei die Fehler. Die Kristallstrukturen der Wafer, die häufig mit Brüchen verwechselt werden, kann das Gerät ausblenden. Die Fehlerrate ist nach Firmenangaben nahezu null, so dass eine Nachkontrolle der aussortierten Wafer nicht nötig sei. In einer Sekunde kontrolliert das Gerät einen Wafer von 100 bis 156 Millimetern Größe. Es ist zur Qualitätskontrolle bei der Waferherstellung oder der Eingangskontrolle bei der Solarzellenherstellung gedacht. |
|
Vorschau zur 24. EU PVSECSONNE WIND & WÄRME 09-2009 Frei nach dem Motto: Vertrauen ist gut, Kontrolle ist besser, präsentiert die GP Solar in Hamburg ein neues Inline-System zur optischen Inspektion von Wafern. Der GP Nano-D prüft das Rohmaterial auf Mikrorisse, Einschlüsse und andere Defekte. Somit dient er zur Qualitätskontrolle in der Waferherstellung, zur Eingangskontrolle bei der Solarzellenherstellung und zur Prozesskontrolle vor der Kontaktierung des Wafers. Ziel: deutlich verringerte Bruchraten in den Produktionslinien. Der GP Nano-D ist für Mono- und multikristalline Wafer geeignet und hat einen Durchsatz von rund einem Wafer pro Sekunde. |
|